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통계적 공정관리(SPC)는 공정 변동을 관찰해 이상 원인을 조기에 찾는다.
관리도(Shewhart X̄-R 관리도)는 평균 이동을 X̄로, 산포 변화를 R로 감시하고, 관리한계(±3σ)와 경고한계 ±2σ 이탈은 이상 원인과 주의 신호다.
관리한계는 공정 자료에서 계산한 값이라 규격한계와 같지 않다.
공정능력지수 Cp는 규격 폭을 6σ로 나눈 산포 지표, Cpk는 평균 치우침까지 반영해 Cp보다 크지 않다.
6시그마는 규격 안에 6σ가 들어가도록 산포를 감소시켜 불량률을 낮춘다.
| 지표 | 의미 | 판단 |
|---|---|---|
| 관리한계(±3σ) | 공정 자체의 변동 범위 | 이탈 시 이상 원인 |
| 경고한계 | ±2σ 수준의 주의선 | 추세 관찰 |
| Cp | 규격 폭 대비 산포 | 치우침 미반영 |
| Cpk | 치우침 반영 능력 | 항상 Cp 이하 |
| AQL | 합격품질수준 | 샘플링 검사 기준 |
샘플링 검사와 AQL : 표본으로 로트 합격 판정 · AQL은 합격시키려는 최대 불량률로 작을수록 엄격 · 시료 수를 늘리면 위험 감소 · 비용 증가
실험계획법(요인설계, 반응표면분석) : 요인설계는 주효과와 교호작용 선별 · 반응표면분석은 최적 조건과 설계공간 탐색
안정성 자료의 회귀와 유효기간 추정(95% 신뢰하한, ICH Q1E) : 95% 신뢰하한이 규격선과 만나는 시점 · 통합 가능 여부 검정 후 통합 회귀
생물학적동등성의 로그변환 90% 신뢰구간(0.8~1.25)을 AUC와 Cmax 모두에서 만족해야 한다.
개체내 변이(CVw)와 고변동성 의약품은 CVw 30% 이상일 때 판정폭 확대를 고려하고, 검체 수 산출(power analysis)은 변이와 검정력으로 정한다.
이상치 처리와 사전 계획(SAP)은 자료를 열기 전 확정해야 하며, 결과를 본 뒤 임의 제외는 편향을 키운다.
제외 기준 · 검정 방법 · 결측 처리까지 사전에 규정해야 재현성이 확보된다.
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